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有標準了!“納米技術-石墨烯和相關二維(2D)材料的性質和測量技術矩陣”ISO標準發布
2019-4-3 11:01:15

  近日消息,國際標準化組織(ISO)已發布標準ISO/TR 19733:2019,“納米技術 - 石墨烯和相關二維(2D)材料的性質和測量技術矩陣”。
  ISO表示,自2004年石墨烯被發現以來,由于其非常優秀的材料特性,它已成為應用研究和器件行業中最具吸引力的材料之一。據人們預計,未來幾年內,石墨烯的應用可以廣泛地取代目前的很多器件開發技術,例如觸摸屏、有機發光二極管(OLED)、太陽能電池、超級電容器和電磁屏蔽等。
  該標準提供了一個矩陣,該矩陣將石墨烯和相關二維(2D)材料的關鍵特性與商業上可實現的測量技術聯系起來。 該矩陣包括用于表征石墨烯和相關2D材料的化學、物理、電學、光學、熱學和機械性質的測量技術。 ISO建議該矩陣可作為開發石墨烯和相關2D材料的表征和測量所需的國際標準的初始指南。
  為了更深入地了解材料特性并找到高質量的大規模生產方式,在全球的大學,研究機構和實驗室中正在對石墨烯進行大量的研究,并對相關的二維(2D)材料進行類似的研究。然而,為了將這些革命性材料引入全面商業化,要求重要材料特性的表征和測量技術需要標準化并得到全球認可。在該文獻中,需要標準化的石墨烯和相關2D材料的特定性質的表征和測量技術以矩陣的形式組織。該矩陣可以作為開發石墨烯和相關2D材料的表征和測量所需的國際標準的初始指南。

該標準中的測量和表征手段包括:
AFM       原子力顯微鏡
BET       Brunauer,Emmet和Teller方法
EDS       能量色散譜
EPMA      電子探針X射線微量分析
ESR       電子自旋共振
FT-IR      傅立葉變換紅外光譜
ICP-MS     電感耦合等離子體質譜法
KPFM      開爾文探針力顯微鏡
LEEM      低能電子顯微鏡
SEM       掃描電子顯微鏡
SIMS       二次離子質譜
SKPM      掃描開爾文探針顯微鏡
STM       掃描隧道顯微鏡
TEM       透射電子顯微鏡
TGA       熱重分析
UPS       紫外光電子顯微鏡
UV-VIS-NIR SPECTROSCOPY   紫外,可見,近紅外光譜
WDS       波長色散光譜
XRD        X射線衍射
XPS        X射線光電子能譜

來源:烯碳資訊


 
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